Localisation de zones sensibles

Analyse de la réponse photoélectrique

Cartographie de composants

Analyse et tri de composants

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Test de circuits intégrés

En partenariat avec le laboratoire IMS de l'université Bordeaux 1, ALPhANOV a développé un système de test laser de circuits intégrés, mis à disposition des industriels.

Ce système permet de générer, grâce à une méthode de contrôle non destructif, une cartographie des circuits intégrés analysés, montrant leur réponse photoélectrique à une stimulation par laser.

Le faisceau est focalisé sur le circuit à l'aide d'un objectif de microscope, et le système analyse, grâce à un oscilloscope, la variation de sa sortie et de son alimentation. Ces informations permettent notamment d'identifier les zones du circuit sensibles aux radiations en générant des effets photoélectriques localisés.


La plateforme de test comprend :

  • un système d'injection laser via un objectif de microscope
  • des platines motorisées permettant de positionner le circuit sous le faisceau laser
  • les circuits d'alimentation du composant
  • un logiciel de contrôle et de commande de l'ensemble des paramètres
  • un oscilloscope qui mesure et analyse les variations induites par la stimulation laser
  • un système d'enregistrement des données et de restitution sous forme de cartographie


L'ensemble peut aussi fournir une étude paramétrique en fonction notamment de l'énergie du laser et de la tension du composant.

Caractéristiques techniques
  • Laser : longueur d’onde 1030 nm, durée de l’impulsion de 200 fs à 5 ps, taux de répétition du monocoup à 250 MHz, énergie quelques nJ
  • Résolution optique : de 1 à 5 µm
  • Platine de déplacement du circuit : champ 50 x 50 mm, résolution 50 nm

Une prestation sur mesure

  • Analyse de la réponse photoélectrique de composants électroniques
  • Obtention de la cartographie de la sensibilité des composants aux radiations
  • Possibilité d'analyse paramétrique
  • Contrôle non destructif
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