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Test de circuits intégrés

La focalisation d'un laser sur un circuit intégré permet sa caractérisation et la simulation d'effets spécifiques.

Le faisceau laser est focalisé sur le circuit à l'aide d'un objectif de microscope, et le système analyse, grâce à un osciloscope, la variation de sa sortie et de son alimentation.

Ces informations permettent notamment d'identifier les zones du circuit sensibles aux radiations et de simuler ainsi des effets spécifiques. La plateforme ATLAS-i permet de fournir aux industriels, grâce à une méthode de contrôle non destructif, une cartographie des circuits intégrés analysés, montrant leur réponse photoélectrique à une stimulation par laser.

En faisant varier certains paramètres tels que l'énergie du laser et la tension du composant, cette technique donne accès à une analyse paramétrique.

Applications

  • Analyse de la réponse photoélectrique de composants électroniques
  • Cartographie de la sensibilité des composants aux radiations
  • Tri de composants

 


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