Aller au contenu principal

Avec ce laser < 50 picosecondes, le temps de création des charges est réduit par rapport aux lasers PDM classiques, ouvrant ainsi de nouvelles possibilités pour les circuits intégrés les plus rapides.

Pourquoi utiliser une source laser en picosecondes pour tester les circuits intégrés ?

Les dernières générations de microcontrôleurs, de SoC (systèmes sur puce) ou de FPGA fonctionnent à des fréquences toujours plus élevées et intègrent des technologies de plus en plus fines.

Dans les domaines de l’évaluation de la sécurité ou de l’analyse de défaillance, l’injection de fautes par laser bénéficie donc de lasers à durée d’impulsion de plus en plus courte. L’utilisation d’une source dans le domaine des picosecondes ouvre un nouveau champ d’exploration.

Elle permet d’injecter des perturbations sur des cycles très courts et d’obtenir une meilleure résolution spatiale afin de produire les effets souhaités dans le composant.

LFI_Pico_1

 

Pourquoi la source laser LFI Pico est-elle particulièrement adaptée à cette application ?

Le LFI Pico est une source laser innovante générant des impulsions optiques < 50 ps, développée spécifiquement pour l’injection de fautes laser dans les circuits intégrés, que ce soit pour des tests de sécurité ou l’analyse de défaillance.

La particularité de cette source réside dans sa capacité à générer des impulsions à la demande, allant d’un seul tir à 10 MHz, à partir d’un déclencheur externe, et surtout avec un très faible jitter (<100 ps écart-type).

Cette fonctionnalité permet aux utilisateurs de contrôler précisément le timing de l’injection des impulsions dans l’échantillon, en synchronisant le laser à partir du composant électronique testé, et non l’inverse. Son architecture entièrement fibrée en fait une source laser particulièrement fiable et compacte.

LFI_PICO_2

 

Ai-je besoin d’un banc d’essai différent pour utiliser le LFI Pico ?

La source LFI Pico est directement compatible avec tous les bancs d’essai laser ALPhANOV développés pour l’injection de fautes laser, tels que les S-LMS et les D-LMS, sans aucune modification.

Le connecteur fibre du LFI Pico est identique à celui du PDM et l’utilisateur peut simplement connecter le LFI Pico à la place de son PDM, sans aucun autre réglage nécessaire.

 

Spécifications techniques

 

LFI_PICO_Optique

Mockup LFI

 

Applications

  • Évaluation et tests de circuits intégrés
  • Analyse de défaillance de circuits intégrés
  • Injection de fautes par laser
  • Tests / dépistage des effets d’événements uniques

 

 

Les produits ou services en lien