Solutions laser pour le test de circuits intégrés
Depuis plus de 15 ans, ALPhANOV soutient la communauté de la sécurité matérielle en développant des solutions optiques et laser pour les tests de circuits intégrés.
Découvrez ici des équipements de haute qualité et de haute précision pour l’injection de fautes par laser, l’imagerie et le comptage d’émission photonique, ainsi que la stimulation thermique par laser permettant l’extraction d’informations.
Notre gamme de produits
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Laser LFI Pico
Laser LFI Pico : une source innovante générant des impulsions de 60 picosecondes à la demande pour l’injection de fautes par laser sur les circuits intégrés. -
Injection de fautes laser monospot - S-LMS
La station microscope pour l'injection de fautes S-LMS est une plateforme de haute précision pour l'évaluation sécuritaire des circuits intégrés. Elle permet de focaliser le spot laser et de balayer l'échantillon à travers sa face arrière afin d'évaluer les niveaux de sécurité des composants électroniques. -
Injection de fautes laser double spots - D-LMS
La station microscope pour l'injection de fautes laser D-LMS est une plateforme permettant de focaliser et de balayer de façon indépendante deux spots laser pour l'évaluation sécuritaire des circuits intégrés. Idéale pour les procédés d'injection double spot, elle offre toute la flexibilité spatiale et temporelle pour l'analyse des circuits part leur face... -
Sources laser PDM - Pulse-on-Demand Module
Les sources laser PDM sont spécialement conçues pour l'évaluation sécuritaire des circuits intégrés. Fiables et robustes, ces sources lasers vous permettent de générer des impulsions à la demande inférieures à la nanoseconde, jusqu'au continu avec une précision temporelle de 8 ps et une taille de spot de 1 µm. -
Banc optique de Photoémission
Lorsqu'un circuit intégré est en fonctionnement, les zones sollicitées par la routine émettent naturellement des photons infrarouges via la face arrière. Le banc optique de photoémission d'ALPhANOV permet de capturer et de visualiser ces émissions photoniques afin d'obtenir une vue précise de l'activité du circuit. -
Stimulation Thermique par Laser - TLS
Le banc de stimulation thermique par laser est un microscope optique permettant de focaliser avec précision, une source laser PDM à 1420 nm. Utilisé via la face arrière des composants électroniques, le faisceau laser permet de chauffer localement l'échantillon afin d'extraire des données dans une mémoire suivant la consommation électrique des transistors. -
Formation "Laser fault injection"
La formation « Laser fault injection » est dédiée à la réalisation de campagnes d’injection de fautes par laser sur les circuits intégrés. Elle s’adresse aux professionnels de la cybersécurité et la cryptanalyse souhaitant développer leur expertise dans l’évaluation sécuritaire des composants électroniques. -
Tombak : générateur d'impulsions et de délai
Ce générateur d'impulsions et de délai peut être utilisé en tant que générateur de burst ou de signaux arbitraires. Il est souvent utilisé pour ses capacités en tant que convertisseur de tension, diviseur de fréquence ou pulse-picker. La résolution de délai est de 10 ps et de largeur d’impulsion 2 ns.
Nos projets collaboratifs en lien
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ASCRIPT – Analyse Sécuritaire de CiRcuits Intégrés par effet PhotoThermique
Elaborer de nouveaux procédés d’évaluation et d’amélioration sécuritaire des circuits intégrés autour d’une technique d’imagerie consistant à utiliser un laser comme source de chaleur.
En savoir plus
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PILAS - Procédé d’Injection laser avancés pour Analyses Sécuritaires des circuits intégrés
Développer un système et une méthodologie d’injection de fautes multipoints sur circuits intégrés.
En savoir plus
Publications
- Tampering with the flash memory of microcontrollers: permanent fault injection via laser illumination during read operations, R. Viera, J.-M. Dutertre, R. Silva Lima, M. Pommies, A. Bertrand - 2023
- Reverse-Engineering and Data Extraction from SRAM using Photon Emission Analysis, R. S. Lima, R. Viera, J.-M. Dutertre, W. Magrini, M. Pommies, et A. Bertrand - 2024
- When Data Shines - Leaking Data from Microcontrollers Through Photon Emission Analysis, R. S. Lima, R. Viera, J.-M. Dutertre, W. Magrini, M. Pommies, et A. Bertrand - 2024
