Solutions laser pour le test de circuits intégrés
Depuis plus de 15 ans, ALPhANOV soutient la communauté de la sécurité matérielle en développant des solutions optiques et laser pour les tests de circuits intégrés.
Découvrez ici des équipements de haute qualité et de haute précision pour l’injection de fautes par laser, l’imagerie et le comptage d’émission photonique, ainsi que la stimulation thermique par laser permettant l’extraction d’informations.
Notre gamme de produits
Nos projets collaboratifs en lien
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ASCRIPT – Analyse Sécuritaire de CiRcuits Intégrés par effet PhotoThermique
Elaborer de nouveaux procédés d’évaluation et d’amélioration sécuritaire des circuits intégrés autour d’une technique d’imagerie consistant à utiliser un laser comme source de chaleur.
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PILAS - Procédé d’Injection laser avancés pour Analyses Sécuritaires des circuits intégrés
Développer un système et une méthodologie d’injection de fautes multipoints sur circuits intégrés.
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Publications
- Techniques d'attaques sans contact via la face arrière des circuits intégrés par méthodes optiques, R. SILVA LIMA - 2025
- Tampering with the flash memory of microcontrollers: permanent fault injection via laser illumination during read operations, R. Viera, J.-M. Dutertre, R. Silva Lima, M. Pommies, A. Bertrand - 2023
- Reverse-Engineering and Data Extraction from SRAM using Photon Emission Analysis, R. S. Lima, R. Viera, J.-M. Dutertre, W. Magrini, M. Pommies, et A. Bertrand - 2024
- When Data Shines - Leaking Data from Microcontrollers Through Photon Emission Analysis, R. S. Lima, R. Viera, J.-M. Dutertre, W. Magrini, M. Pommies, et A. Bertrand - 2024
